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Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) – Dirección de Impulso a la Innovación y el Desarrollo (DIID)

Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)

Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)

Investigador responsable: Dr. Santiago Camacho López
Sectores de aplicación: Industrias electrónica, farmacéutica, metalúrgica, mecánica, mecatrónica, nanotecnológica y centros de investigación públicos y privados.
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Descripción del servicio:

Microscopía de fuerza atómica para la digitalización de topografías a escala sub micrométrica. Área máxima de trabajo 100μm x 100μm, máxima resolución en profundidad 0.152 nm, máxima resolución en XY 1.525nm.

Equipo

Microscopio de fuerza atómica Modelo C3000 de la marca NanoSurf.

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Nombre del laboratorio:

Láseres de Pulsos Ultracortos y Procesamiento de Materiales

Página web:

http://l2pupmat.cicese.mx

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